Назва: A Guide to Scanning Microscope Observation
Видавництво: JEOL
Сторінок: 36
Формат: PDF
Розмір: 1,03 МБ
Мова: Англійська
Анотація: This instrument is getting easier to use with the progress of
electronics and introduction of new techniques. Anybody can now take
micrographs after short-time training in its operational procedure.
However, when one has begun to use the instrument, he cannot always take
satisfactory photos. When the photo is not sharp enough, or when
necessary information cannot be obtained, it is necessary to think what
causes it.
Egerton R.F. Physical Principles of Electron Microscopy
Назва: Physical Principles of Electron Microscopy
Автор: Egerton R.F.
Вид: Книга
Видавництво: Springer
Рік випуску: 2005
Сторінок: 211
Формат: pdf
Розмір: 5,30 МБ
Мова: Англійська
Анотація: The purpose of this book is to introduce concepts of
electron microscopy and to explain some of the basic physics involved at
an undergraduate level. It originates from a one-semester course at the
University of Alberta, designed to show how the principles of
electricity and magnetism, optics and modern physics learned in first or
second year) have been used to develop instruments that have wide
application in science, medicine and engineering. Finding a textbook for
the course has always been a problem; most electron microscopy books
overwhelm a non-specialist student, or else they concentrate on
practical skills rather than fundamental principles. Over the years,
this course became one of the most popular of our “general interest”
courses offered to non-honors students. It would be nice to think that
the availability of this book might facilitate the introduction of
similar courses at other institutions.
Faculty of Engineering, Christian-Albrechts University of Kiel. Scanning Electron Microscopy
Назва: Scanning Electron Microscopy
Автор: Faculty of Engineering, Christian-Albrechts University of Kiel
Вид: Materials Testing
Сторінок: 17
Формат: pdf
Розмір: 353 KБ
Мова: Англійська
Анотація: Explanation of the basics of scanning electron microscopy
using surfaces of fractures as an example. Comparison and analysis of
differing fracture behaviour of metallic and polymeric materials by
means of scanning electron microscopy.
Goodhew P.J., Humphreys J., Beanland R. Electron microscopy and analysis
Назва: Electron microscopy and analysis
Автор: Goodhew P.J., Humphreys J., Beanland R.
Вид: Книга
Видавництво: Taylor & Francis
Рік випуску: 2001
Сторінок: 265
Формат: pdf
Розмір: 19,2 МБ
Мова: Англійська
Анотація:
- Microscopy with light and electrons
- Electrons and their interaction with the specimen
- Electron diffraction
- The transmission electron microscope
- The scanning electron microscope
- Chemical analysis in the electron microscope
- Electron microscopy and other techniques.
Назва: Invitation to the SEM World
Видавництво: JEOL
Сторінок: 54
Формат: PDF
Розмір: 9,47 МБ
Мова: Англійська
Анотація:For people who are using the SEM for the first time
Sampson A.R. Scanning Electron Microscopy
Назва: Scanning Electron Microscopy
Автор: Sampson A.R.
Вид: Книга
Рік випуску: 1996
Сторінок: 16
Формат: DOC
Розмір: 251 КБ
Мова: Англійська
Глоер О.М. Практические методы электронной микроскопии
Назва: Практические методы электронной микроскопии
Автор: Глоер О.М.
Вид: методики
Видавництво: М.: Энергоатомиздат
Рік випуску: 1980
Сторінок: 375
Формат: pdf
Розмір: 55.5 MБ
Мова: Російська
Анотація: В книзі розглянуті методики виготовлення зразків для
просвічуючого електронного мікроскопу, описані оптичні дифрактограми та
методи аналізу електронних зображень; приведені способи покращення
зображень, отриманих за допогою електронного мікроскопа, фотографічними
методами та за допопомогою ЕВМ.
Книга розрахована для кола осіб, які займаються електронною мікроскопією.
Гоулдстейн Дж. и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ, том 1
Назва: Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ, том 1
Автор: Гоулдстейн Дж. и др.
Вид: Книга
Видавництво: Москва “МИР”
Рік випуску: 1984
Сторінок: 305
Формат: djvu
Розмір: 6,73 МБ
Мова: Російська
Анотація:В 1 книжке монографии распространенных
южноамериканских экспертов рассказаны типовые способы растровой
электронной микроскопии и некие нюансы рентгеновского микроанализа.
Рассмотрены специфики электронной оптики устройств, взаимодействие
электронов с жестким туловищем, доктрина формирования изображения в
растровом микроскопе, и еще разрешение, информативность режимов
вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с
дисперсией по энергии и протяженности волны и высококачественный
рентгеновский микроанализ.
Гоулдстейн Дж. и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ, том 2.
Назва: Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ, том 2
Автор: Гоулдстейн Дж. и др.
Вид: Книга
Видавництво: Москва “МИР”
Рік випуску: 1984
Сторінок: 349
Формат: djvu
Розмір: 8,23 МБ
Мова: Російська
Анотація: Во 2 книжке монографии
рассказана методология проведения количественного рентгеновского
микроанализа с множественными образцами и фактическими советами, и еще
техника подготовки всевозможных объектов для дальнейшего их
изыскания в РЭМ и РМА. Рассмотрены вопросы нанесения особых покрытий,
отличительные черты изыскания био (влагосодержащих) образчиков и так
далее.
Растровая єлектронная микроскопия. Розділ з підручника
Назва: Растровая єлектронная микроскопия
Вид: Розділ книги
Сторінок: 66
Формат: PDF
Розмір: 3,28 МБ
Мова: Російська
Рид С.Дж.Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии
Назва: Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии
Автор: Рид С.Дж.Б.
Вид: Книга
Видавництво: Техносфера
Рік випуску: 2008
Сторінок: 320
Формат: djvu
Розмір: 3,88 МБ
Мова: Російська
Анотація: В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный
микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению
геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка
электронов с образцом и оборудование для ЭЗМА и РЭМ, основные принципы
формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских
спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС).
Подробно изложены процедуры качественного и количественного
рентгеноспектрального анализа. Книга предназначена для
студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а
также как дополнительный материал для специалистов, использующих ЭЗМА и
РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в
ней опущены излишние технические подробности.
Спивак Г. В., Caрапин Г. В., Быков М.В. Растровая электронная микроскопия
Назва: Растровая электронная микроскопия
Автор: Спивак Г. В., Caрапин Г. В., Быков М.В.
Вид: Статья
Видавництво: Журнал “Успехи Физических Наук”
Рік випуску: 1969
Сторінок: 38
Формат: pdf
Розмір: 5,00 МБ
Мова: Російська