Egerton R.F. Physical Principles of Electron Microscopy

Назва: Physical Principles of Electron Microscopy
Автор: Egerton R.F.
Вид: Книга
Видавництво: Springer
Рік випуску: 2005
Сторінок: 211
Формат: pdf
Розмір: 5,30 МБ
Мова: Англійська
Анотація: The purpose of this book is to introduce concepts of electron microscopy and to explain some of the basic physics involved at an undergraduate level. It originates from a one-semester course at the University of Alberta, designed to show how the principles of electricity and magnetism, optics and modern physics learned in first or second year) have been used to develop instruments that have wide application in science, medicine and engineering. Finding a textbook for the course has always been a problem; most electron microscopy books overwhelm a non-specialist student, or else they concentrate on practical skills rather than fundamental principles. Over the years, this course became one of the most popular of our “general interest” courses offered to non-honors students. It would be nice to think that the availability of this book might facilitate the introduction of similar courses at other institutions.

Goodhew P.J., Humphreys J., Beanland R. Electron microscopy and analysis

Назва: Electron microscopy and analysis
Автор: Goodhew P.J., Humphreys J., Beanland R.
Вид: Книга
Видавництво: Taylor & Francis
Рік випуску: 2001
Сторінок: 265
Формат: pdf
Розмір: 19,2 МБ
Мова: Англійська
Анотація:

• Microscopy with light and electrons
• Electrons and their interaction with the specimen
• Electron diffraction
• The transmission electron microscope
• The scanning electron microscope
• Chemical analysis in the electron microscope
• Electron microscopy and other techniques.

Reimer L., Kohl H. Transmission Electron Microscopy

Назва: Transmission Electron Microscopy
Автор: Reimer L., Kohl H.
Вид: Книга
Видавництво:Springer
Сторінок: 602
Формат: pdf
Розмір: 4,68 МБ
Мова: Англійська
Анотація: The aim of this monograph is to outline the physics of image formation, electron–specimen interactions, and image interpretation in ransmission electron microscopy. Since the last edition, transmission electron microscopy has undergone a rapid evolution. The introduction of monochromators and improved energy filters has allowed electron energy-loss spectra with an energy resolution down to about 0.1 eV to be obtained, and aberration correctors are now available that push the point-to-point resolution limit down below 0.1 nm.

Балицький О.О., Миколайчук О.Г. Дифракція електронів для дослідження структури матеріалів

Назва: Дифракція електронів для дослідження структури матеріалів
Автор: Балицький О.О., Миколайчук О.Г.
Вид: Книга. Практикум
Видавництво: Львів. Видавничий центр ЛНУ імені Івана Франка
Рік випуску: 2005
Сторінок: 63
Формат: pdf
Розмір: 844 КБ
Мова: Українська
Анотація: Розглянуто застосування дифракції електронів для дослідження структури матеріалів, описано шість лабораторних робіт з методики індексування та розшифрування електронограм від полікристалічних, монокристалічних і аморфних матеріалів, проаналізовано геометрію утворення дифракційної картини в разі відбивання поверхнею швидких і повільних електронів та використання її для аналізу реальної будови поверхні. Для студентів фізичного факультету.

Вайнштейн Б.К. Электронная микроскопия атомного разрешения

Назва: Электронная микроскопия атомного разрешения
Автор: Вайнштейн Б.К.
Вид: Статья
Видавництво: Журнал “Успехи физических наук”
Рік випуску: 1987
Сторінок: 48
Формат: pdf
Розмір: 2.64 МБ
Мова: Російська

Васильев Л.И., Глезер А.М.
Современная электронная микроскопия металлических материалов

Назва: Современная электронная микроскопия металлических материалов
Автор: Васильев Л.И., Глезер А.М.
Вид: Стаття
Видавництво:ЛДНТП
Рік випуску: 1983
Сторінок: 21
Формат: djvu
Розмір: 4,00 МБ
Мова: Російська
Анотація: Работа посвящена электронной микроскопии металлов и сплавов, ее использованию применительно к задачам металловедения. Кратко рассмотрены принципы действия электронных микроскопов, влияние и значение ускоряющего напряжения, требования, предъявляемые к подготовке изучаечых объек тов. Содержатся сведения о различных современных электронномикроскопических методиках , возможностях этих методик, получаемой с их помощью информации.

Пилянкевич А.Н., Климовицкий А.М. Электронные микроскопы

Назва: Электронные микроскопы
Автор: Пилянкевич А.Н., Климовицкий А.М.
Вид: Книга
Видавництво: Киев. Техніка
Рік випуску: 1976
; Сторінок: 168
Формат: djvu
Розмір: 1,55 МБ
Мова: Російська
Анотація: Изложены основные представления электронной геометрической оптики, рассмотрен принцип действия электростатических и электромагнитных электронных линз и основные виды их аберраций, а также конструкции линз и их взаимодействие в оптической системе электронных микроскопов просвечивающего типа. Особое внимание уделено практическим вопросам эксплуатации электронных микроскопов: наладке, юстировке, проверке разрешающей способности, поиску неисправностей, профилактическому обслуживанию и ремонту. Рассчитана на инженерно-технических работников, использующих просвечивающие электронные микроскопы в различных областях науки и техники, может быть использована студентами и аспирантами в качестве пособия в ознакомительном курсе электронной микроскопии.

Синдо Д., Оикава Т. Аналитическая Просвечивающая Электронная Микроскопия

Назва: Аналитическая Просвечивающая Электронная Микроскопия
Автор: Синдо Д., Оикава Т.
Вид: Книга
Видавництво: Москва. “Техносфера”
Рік випуску: 2006
Сторінок: 255
Формат: djvu
Розмір: 6,30 МБ
Мова: Російська
Анотація: Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энерго-дисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам: на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны, подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов.
В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.